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기술사양

측정기:	HELOS	BF: 0.1 ~ 875 micron KF: 0.1 ~8750 micron VARIO: 0.1 ~ 8750 micron
이론:	광회절	l = 632,8 nm¹
분산:	모듈식	건식분산, 분무, 액상유화체, 유화액
측정:	다원소 검출기 측정빈도	31 원소 반원형 검출기 초당 2000회, 연속 자동정렬장치
평가:	Fraunhofer	MIE (선택사항)
범위:	optical modules	R1 ~ R8
성능:	반복성 재현성 x₁₀, x₅₀, x₉₀	s < 0.04% 일반 (연속시료) s < 0.3% 일반 (축분시료) s < 1% mean 비교표준편차 /Dx/ < 2.5% 최고 비교표준편차 < 5% Submicron영역에서의 비교편차
제어:	WINDOX 소프트웨어 제어	WINDOWS XP Pro / 2000
응용:	레이져출력 보안등급 및 종류 광원크기r (1/e²)	5 mW 3A/IP40 R1 및 R2 : 2.2 mm R3 ~ R5: 13 mm R6 및 R7: 26 mm R8: 35mm
품질보증:	보증서 표준시료 검증	standard test procedure SiC - F1200 (x₅₀ = 4.5 micron) SiC - P600 ( x₅₀ = 27micron) SiO2 - F34 (x₅₀ = 220micron) SiC -P 50 (x₅₀ = 420micron) FDA 승인

추가정보 ...

HELOS
광회절 입도분석장치
0.1 ~ 8750 micron

광회절 측정

분산장치

소프트웨어

보조장치

진공흡입장치

관련정보

간행물 및 논문

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레이져 안전기준

모든 HELOS/BF 및 HELOS/KF제품은
일급레이져제품임.
직접 쳐다보지 마십시요.

HELOS/KF-VARIO with flexible width of the measuring zone, e.g. for spray apllication

모든 HELOS /KF-Vario제품은
일급레이져제품임.
직접 쳐다보지 마십시요.