Es gibt viele verschiedene Arten von Partikeln und dispersen Systemen - Pulver, Granulate, Fasern, Suspensionen, Emulsionen oder Aerosole. Und je nach Größe und Form der Partikel offenbaren diese dispersen Systeme unterschiedliche Verhaltensweisen. Was aber haben all diese Partikel gemein? Sie bestimmen wesentlich die Qualität Ihres Endproduktes.

Doch nur wenn die physikalischen Eigenschaften der dispersen Systeme gemessen werden, sind sie auch gestaltbar. Damit Sie richtig messen - zuverlässig, wieder und wieder - bieten wir modulare Instrumente, die sich den spezifischen Bedürfnissen Ihrer Produkte und Prozesse flexibel anpassen lassen. Um zu erfahren, wie wir Ihre Anforderungen erfüllen können, laden wir Sie herzlich zur Sympatec Partikel Messtechnik Tour ein. Ihre Proben sind herzlich willkommen!

Wir freuen uns auf Ihr Dabeisein!

Veranstaltungsort: Hotel Holiday Inn - International Drive in Orlando

Programm

Uhrzeit Thema Vortragender
09.00

 

Anmeldung

 

 

Paul Cannon
Sales Engineer
Sympatec Inc.

 

09.15

 

Begrüßung

 

 

Stefan Steigerwald
CEO, Symaptec Inc.

 

09.25

 

Bessere Partikel ...
... mit besten Instrumenten
zur Partikelcharakterisierung

 

 

Stefan Steigerwald

 

09.45

 

RODOS | QUIXEL | TWISTER & Co.
Probenhandling und produktgerechte Dispergierung
bei trockenen, nassen und Spray-Applikationen

 

 

Paul Cannon

 

10.10

 

HELOS | MYTOS & Co. | mit Applikationen
Partikelgrößenanalyse mit Laserbeugung

Labor | modular | 0,1 µm to 8.750 µm
Prozess | in-line | 0,25 µm to 3.500 µm

 

 

Stefan Steigerwald

 

11.15

 

Kaffeepause

 

 

 

 

11.30

 

QICPIC | PICTOS & Co | mit Applikationen
Dynamische Bildanalyse zur Charaktisierung von Partikelgröße und Partikelform

Labor | modular | < 1 µm to 34.000 µm
Prozess | on-line | 2 µm to 20.480 µm

 

 

Paul Cannon

 

12.25

 

NANOPHOX | mit Applikationen
Analyse von Partikelgröße und Stabilität mit PCCS auch in hoch konzentrierten Nanodispersionen

Labor | 0,5 nm – 10.000 nm

 

 

Stefan Steigerwald

 

12.55

 

OPUS | NIMBUS | mit Applikationen
Analyse von Partikelgröße und Konzentration mit Ultraschallextinktion in optisch dichten Dispersionen

Prozess und Labor | < 0,1 µm to 3.500 µm

 

 

Stefan Steigerwald

 

13.15

 

Einladung zum Mittagessen

 

 

 

 

14.00

 

Live-Workshop | Ihre Proben sind willkommen!
Hands-on Partikelcharakterisierung in kleinen Gruppen HELOS | QICPIC | NANOPHOX

 

 

Stefan Steigerwald
Paul Cannon
Kay Mootz
Sales Manager Americas
Sympatec Inc.

 

17.00

 

Finale  ... bei Bedarf verlängert ...

 

 

 

 

Orlando, FL | US

Anmeldung zur Partikel-Messtechnik-Tour

  • Wir erheben keine Teilnahmegebühr für die Veranstaltung.
  • Bitte melden Sie jede Person einzeln an.
  • Der Anmeldeschluss ist eine Woche vor Veranstaltungsbeginn.

Anmeldeformular

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