Technische Daten

Sensor: HELOS BF: 0.1 µm - 875 µm
KF: 0.1 µm - 8750 µm
VARIO: 0.1 µm - 8750 µm
Meßprinzip: Laserbeugung1 l = 632,8 nm1
Dispergierung Anpaßbare Module Aerodispersion, Sprays,
Suspensionen, Emulsionen
Messung: Multielementdetektor
Frequenz
31 semizirkulare Elemente
2000/s, permanenter Autofokus
Auswertung: Fraunhofer MIE als Option
Meßbereiche: optische Module R1 bis R8
Leistungsmerkmale: Wiederholbarkeit

Vergleichbarkeit 
x10, x50, x90
s < 0.04% typisch (Wiederholungsmessung)
s < 0.3% typisch (geteilte Proben)
s < 1% mittlere rel. Standardabweichung
/Dx/ < 2.5% rel max. Abweichung
< 5% rel. Submikronabweichung
Steuerung: WINDOX-Software WINDOWS XP Pro / 2000
Ausstattung: Laserleistung
Schutzklasse/Typ
Strahldurchmesser
(1/e²)
5 mW
3A/IP40
R1 & R2 : 2.2 mm
R3-R5: 13 mm
R6 & R7: 26 mm
R8: 35mm
QS-System Zertifizierung
Referenzmaterial




Validierung
Standardtestprozedur
SiC - F1200 (x50 = 4.5 µm)
SiC - P600 ( x50 = 27µm)
SiO2 - F34 (x50 = 220 µm)
SiC -P 50 (x50 = 420µm)
FDA genehmigt

Mehr ...

Diese Seite zu meinen Favoriten hinzufügen Diese Seite per E-mail versenden Diese Seite im Druckformat ausgeben

HELOS
Partikelgrößenanalyse mit Laserbeugung
0.1 µm - 8750 µm

symbol: laser diffraction

Lasersicherheit1

HELOS/BF with dry / wet disperser combination OASIS

Alle Sensoren der HELOS/BF- und HELOS/KF_Serie sind
Klasse 1 Laserprodukte.
Nicht direkt in den Strahl schauen..

HELOS/KF-VARIO with flexible width of the measuring zone, e.g. for spray apllication

Die Sensoren der HELOS/KF-Vario- Serie sind Klasse 3R Laserprodukte. Nicht direkt in den Strahl schauen.